GTEM小室是近十幾年發(fā)展起來(lái)的一種新型電磁兼容測(cè)試設(shè)備，它的工作頻率范圍可以從直流至數(shù)GHz以上，具有截止頻率高、測(cè)試空間大等優(yōu)點(diǎn)，已廣泛應(yīng)用于電磁兼容測(cè)試和電磁場(chǎng)生物學(xué)效應(yīng)的研究中。如何準(zhǔn)確評(píng)估GTEM小室的性能以及形成標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)試評(píng)估方法，是目前GTEM小室研制過(guò)程中需要解決的主要問(wèn)題之一。

　　GTEM小室在電磁兼容測(cè)試中的應(yīng)用：

　　GTEM小室誕生之初，主要用于BMS測(cè)試，當(dāng)今國(guó)內(nèi)外EMC測(cè)試界一致認(rèn)可GTEM小室，并在硬件和軟件上做了大量的工作，相應(yīng)GTEM小室測(cè)試技術(shù)也越來(lái)越成熟。

　　（1）輻射敏感度（EMS）試驗(yàn)

　　采用GTEM小室做輻射電磁場(chǎng)敏感度試驗(yàn)，由于用GTEM產(chǎn)生的電場(chǎng)強(qiáng)度要遠(yuǎn)大于天線(xiàn)產(chǎn)生的場(chǎng)強(qiáng)，所以用比較小的功率放大器可以產(chǎn)生很強(qiáng)的電場(chǎng)。同時(shí)，用GTEM小室做射頻輻射電磁場(chǎng)敏感度試驗(yàn)不需要用天線(xiàn)，所以可方便地用于自動(dòng)測(cè)試。當(dāng)信號(hào)源經(jīng)過(guò)放大后注入到GTEM小室的一端，就能在芯板和底板之間形成很強(qiáng)的均勻電磁場(chǎng)，放置在被測(cè)件附近的電場(chǎng)監(jiān)視探頭監(jiān)測(cè)場(chǎng)強(qiáng)，測(cè)控軟件控制信號(hào)源以一定的步長(zhǎng)進(jìn)行輻射場(chǎng)的頻率掃描。試驗(yàn)人員通過(guò)視頻監(jiān)視器觀(guān)測(cè)受試品在射頻電磁場(chǎng)干擾下的工作情況。

　?。?）輻射干擾（EVI）試驗(yàn)

　　電磁強(qiáng)擾輻射發(fā)射值測(cè)試也能在GTEM小室內(nèi)進(jìn)行，此時(shí)小室內(nèi)芯板和底板就代替暗室測(cè)試中的天線(xiàn)接收受試品工作過(guò)程中產(chǎn)生的輻射干擾。GTEM小室通過(guò)干擾接收機(jī)測(cè)試受試品工作過(guò)程中電磁干擾的輻射發(fā)射情況，再通過(guò)計(jì)算機(jī)軟件處理得到受試品輻射發(fā)射的測(cè)試結(jié)果。但存在一個(gè)在GTEM小室中的測(cè)試結(jié)果和開(kāi)闊場(chǎng)或電波暗室測(cè)試結(jié)果的比對(duì)問(wèn)題，需要經(jīng)過(guò)多次的測(cè)試比對(duì)從中找出規(guī)律（建立數(shù)學(xué)模型）進(jìn)行必要的修正。另外，受試品在GTEM小室中擺放的位置不同，造成芯板與底板之間相對(duì)距離的不同，也是導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不同的關(guān)鍵因素。